爱德万测试推陈出新,应对热点应用测试挑战

日期:2018-08-17

 
日前,爱德万测试(中国)管理有限公司在北京举办2018爱德万测试北京媒体发布会,爱德万测试(中国)管理有限公司VP封薛明、VP夏克金博士,以及高级测试工程师陈郝和高级测试应用工程师陈竞远出席发布会。封薛明在开幕词中表示,公司20年前进入中国市场,近年来其业绩一直保持两位数的增长,2017年出现了翻倍增长,中国地区销售额已超过美国、欧洲和日本。
 他认为,随著全球数据量急剧增加,终端应用领域对于半导体技术的要求亦呈指数增长,过去简单的电子技术就可以满足的需求,如今需要人工智能、机器学习、无人驾驶、医疗仪器、基础设施扩建等多元覆盖实现。因此,半导体元器件必须具备极高的可靠性,爱德万测试对于供应链的价值也由此变得更加重要。
 会上夏克金博士和两位工程师分布介绍了当前行业热点和新推出的3款产品。
 
解读行业热点
 

 
夏克金博士表示,作为全球测试测量领导者和端到端解决方案的领先供应商,爱德万测试一直在关注半导体发展的驱动力。他认为,人机交互将引领下一波突破性技术,人工眼睛加实时决策可以实现实时图像处理移动超级计算;人工耳加中枢智能将带来数据通信和服务器计算的低延时移动数据爆炸;虚拟/增强现实可以在一个移动设备上实时渲染超级计算;安全数据网络有助于实现低延时可靠的远程诊断。
 在半导体行业的很多驱动力中,自动化测试可以支持物联网,包括云、系统级实现和相关半导体技术。而从5G标准化和部署时间表可以看出,5G将满足物联网应用的新机遇。爱德万测试的端到端解决方案涵盖从前道到后道的半导体工艺技术,可以满足当前和未来的行业需求。

 

 
他还表示,中国集成电路设计企业数量巨大,为了降低中小企业的设计测试成本,爱德万测试推出了服务整个应用领域的在线测试服务以及爱德万测试大学,2019年将继续举办爱德万测试VOICE国际开发者大会。他透露,Keynote演讲人 Hugh Herr是一位著名工程师和生物物理学家,他在30年前的爬山事件中失去了双腿。他和麻省理工学院的团队正在重新定义人类潜能,致力于设计一个科技消除残疾的世界。
 
覆盖PCIe Gen 4设备所有测试需求
 

 
接着,陈郝介绍了新推出的最新PCIe Gen 4固态驱动器的整体测试解决方案。它是MPT3000系统的最新扩展能力,可以使固态驱动器制造商更快地将他们的产品推向市场。
 他认为,SNS、VoIP、企业数据、传感器和设备的数据流量正在爆炸性增长,而PC和智能手机无法处理所有数据,服务器和数据中心需要更多的存储来存储更多的数据,因此需要更多的SSD。

 

 
他介绍说,这是业界第一个完全集成的固态硬盘测试解决方案,可以用于开发、调试以及量产PCIe Gen 4固态驱动器(SSD),并且MPT3000平台也可以同时兼容PCIe Gen 3、SATA和SAS等协议的固态硬盘的测试开发以及量产。这套全方位的新的测试解决方案可以使SSD制造商加快其新产品上市的时间。
MPT3000平台现在可以覆盖PCIe Gen 4设备的所有测试需求——从支持工程使用的MPT3000ES,到支持可靠性验证测试(RDT)的MPT3000ENV,再到支持量产的MPT3000HVM,用户可以在MPT3000上直接开发PCIE Gen4,而不用等待第三方厂商提供测试方案。它向用户提供一套从设计到制造的测试流程,并使用与爱德万测试已经投入市场的PCIe Gen 3解决方案相同的测试架构和软件,从而简化了向下一代产品升级的过程。这一整体解决方案为SSD制造商提供了市场最快、风险最低的路径。
 陈郝强调,为了解决各种各样的固态硬盘协议和形式因素问题,模块化的MPT3000平台可以验证和测试最新一代的PCIe存储器。在这种高度灵活的测试系统中,每一个DUT(待测器件)独立测试架构和硬件加速使它成为一个单一的系统解决方案,可用于几乎所有的工程、批量生产和BIST(内置的自测试)应用程序。
MPT3000的优势在于,它是市场上第一个可以提供PCIe Gen 4测试的解决方案,是将PCIe Gen 4 SSD引入市场的极快途径,利用该平台客户可以准备早期测试开发方案,从调试和验证到RDT到大批量生产;为领先的SSD制造商提供一个极佳的测试战略。

 
扩展多种电源管理应用市场能力
 

 
之后,陈竞远介绍了爱德万测试推出的浮动电源,扩展了V93000测试平台在多种电源管理应用市场的能力。FVI16系统支持汽车,工业和消费类电源管理应用芯片的电源测试。
 他说,FVI16是下一代浮动电源VI板卡,可搭载在V93000单一可扩展平台上,扩展其性能,使设备可用于测试汽车,工业和消费类移动充电用电源和模拟芯片,让用户可以自如应对不断发展的电动汽车和快充电器市场。通过提供250瓦的高脉冲功率和高达40瓦的直流电源,新的电源有助于提供足够的功率测试最新一代芯片,同时进行重复稳定的测量。

 

 
他认为,增强的电源为V93000平台提供了业界最佳的VI信号性能,并将其覆盖范围扩展到新的市场,使其成为最广泛的测试解决方案。凭借FVI16,这款通用的测试平台可用于测试包括电源管理芯片在内的更广泛的半导体器件,如从安全气囊和ABS(防抱死制动系统)控制器到USB-C充电器和无线电动工具。
 据介绍,与采用传统模拟反馈的其它测试系统相比,搭载FVI16板卡的V93000测试系统的数字反馈回路设计提供了市场上最佳的信号源,测量精度和模拟/功率性能。数字反馈技术提供多种独特功能,包括无毛刺的“智能连接”和恒定的开尔文监控,实现可靠的和高精度的测量。用户控制的斜率和带宽设置可以实现快速建立稳定时间以适应各自的负载条件。
FVI16板卡具有业界最高的仪器通道密度,配置在爱德万测试A-Class测试头内可以使其作为小型系统,从而降低测试成本。具有四象限操作的16个通道允许在高电流测试中将每块板卡的通道并联到高达155安培。对于高压测试,每块板卡可以实现在+200伏的浮动范围内高达+180伏的串联。
FVI16专利集成的快速电流钳位可以保护负载板硬件,探针卡插针和DUT插座,以防设备损坏造成短路。用户可以使用新的FVI16将现有V93000 Smart Scale系统的功能扩展到更高的电压,更多的通道数和更大的功率以满足高同测数的芯片测试需求,同时保持较低的测试成本。
 陈竞远透露,FVI16浮动电源VI板卡已在多个用户现场使用,已经收到多家欧洲和日本的领先汽车电子用户的订单。爱德万测试提供灵活的软件许可证,用户可以选择最适合他们特定需求的产品。

 
推进DRAM市场快速发展
最后,陈郝介绍了爱德万测试为当前市场上最高速的新兴存储器芯片而推出的T5503HS2高速存储器测试系统。该系统不仅能为当前最高速存储器芯片提供业界最高效的量产测试解决方案,同时也可以覆盖下一代超高速DRAM存储芯片。在目前全球对存储器需求飞速增长的时代背景下,T5503HS2全新测试系统的灵活性扩展了T5503系列产品在当前“超级周期”中的功能。

 

 
他认为,存储器超级周期由飞速增长的终端市场所驱动,这个终端市场包括便携式电子设备及服务器。据市场调研公司调研,自2009年起移动型内存的比特市占率增长超过了500%。预估到2021年,数据处理应用市场将需要1200亿GB的DRAM容量,包括移动电子设备、数据中心、汽车、游戏和显卡。为了满足这一庞大的增长需求,芯片制造商正在研发新型的,先进的SDRAM技术,如高达每秒6.4GB数据传输速度的DDR5和LPDDR5存储器芯片。
 爱德万测试的T5503HS2是设计用于提供针对新型存储器和现有器件的测试解决方案。它的测试速率最快能达到8 Gbps同时测试精度在±45皮秒。充分利用其16,256的数据通道,这个全能型测试系统在测试下一代LP-DDR5和DDR5器件的同时也允许使用者兼容测试现今的DDR4,LP-DDR4及高带宽存储器器件,实现了半导体业界最高的同测数和最优利润率。配置的4.5GHz高速时钟选配模块使新测试机拥有了以超过8 Gbps的数据传输速率来应对未来存储器芯片测试的可扩展性。
 独特的性能使T5503HS2成为了独一无二的新一代量产测试机,内置的超高速存储器可支持测试LP-DDR5和DDR5器件的关键性能。例如,通过实时追踪功能,测试机能够自动识别和调整DQS-DQ间时序差异来确保更多的时序余量。此外,一个强健的新型逻辑算法模式生成器(ALPG)允许对先进器件的特性进行快速高品质评价。
T5503HS2中也配置了一个新型可编程电源供给单元,这个电源供给单元的反应速度是之前版本的四倍,同时带来更低的电压压降。目前使用T5503测试系统的用户可以将设备升级成为新的T5503HS2测试系统,来为下一代存储器器件的测试实现无缝经济的产品线过渡。
 陈郝最后强调,T5503HS2拥有一流的性能和对应下一代存储器芯片高速测试时所需的精度。这个测试系统有无与伦比的可扩展性和生产同测能力,使它在评价LP-DDR5和DDR5器件时做到快速、精确和最优利润率。

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